ezAFM+

ezAFM+는 다양한 분야의 연구에 사용 가능한 Mode를 제공하는 초소형 AFM(Atomic Force Microscope)입니다. 이동 및 설치가 간편하여 전문 연구소 및 나노기술 교육용으로 사용하기 편리한 AFM이며 Nano Scale의 표면형상을 측정합니다.

▪ 특징 및 주요기능

- Z Resolution

<0.02nm (40㎛ x 40㎛ Scanner)

  <0.2nm (120㎛ x 120㎛ Scanner)

- Lateral resolution

<5nm (40㎛ x 40㎛ Scanner)

-  <16nm (120㎛ x 120㎛ Scanner)

Anodic Aluminum Oxide    Multi-walled CNT

Red Blood Cells        Polycaprolactone Fibers

        DNA             PS-b-PMMA Phase Image

▪ Mode

- Intermittent Contact

- Phase Imaging / Phase Contrast

- Contact Mode / Static Force

- LFM (Lateral Force microscopy)

- MFM (Magnetic Force microscopy)

- EFM (Electrostatic Force Microscopy)

- PRFM (Piezo Response Force Microscopy)

- KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)

- Force Modulation

- c-AFM (Conductive AFM)

- SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscopy)

- Multiple Spectroscopy Modes

- Lithography and Manipulation Modes

- Liquid Modes